اهداف درس: آشنایی با روشهای شناسایی و آنالیز مواد نانوساختار
مباحث درس: 1- طیف نگاری الکترونی: اصول و کاربرد روشهای طیف نگاری الکترونی اوژه (AES) ، طیف نگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس (XPS)و طیف نگاری الکترونی افت انرژی (Electron energy loss spectroscopy) 2- روشهای تصویر برداری نانو ساختارها: دستگاهوری اصول و کاربرد روشهای میکروسکوپ الکترونی عبوری STM و میکروسکوپ الکترونی روبشی TEM 3-روشهای میدان قوی: دستگاهوری اصول و کاربرد روشهای میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)، میکروسکوپ نیروی روبشی (STM) 4-روشهای یون فرودی: دستگاهوری اصول و کاربرد روش طیف‌سنجی جرمی یون های ثانویه (SIMS) 5- تعیین اندازه ذرات: آشنایی با روشهای اندازه گیری ذرات شامل دو روش پراکندگی استاتیکی (SLS) و دینامیکی (DLS) نور لیزر 6- تعیین سطح ویژه: بررسی اندازه‌گیری سطع فعال و حجم منافذ در نانومواد و روشهای اندازه‌گیری میزان تخلخل و سطوح موثر (BET) 7- خواص مغناطیسی: منشا مغناطیس مواد و برهم‌کنش بین الکترون‌ها و آشنایی با دستگاه اندازه‌گیری خواص مغناطیسی (VSM) 8- آنالیز حرارتی: مقدمه‌ای بر روشهای آنالیز حرارتی (Thermal Analysis, TA) 9- روشهای طیف نمایی ارتعاشی از سطح: طیف‌سنجی مادون قرمز (IR Spectroscopy)و طیف‌سنجی تبدیل فوریه مادون قرمز (FTIR)، طیف‌سنجی رامان (Raman Spectroscopy) 10- روشهای اپتیک میدان نزدیک: دستگاهوری اصول و کاربرد روش میکروسکوپ اپتیکی میدان نزدیکSNOM 11- روشهای طیف سنجی نوری: دستگاهوری اصول و کاربرد روش طیف‌سنجی مرئی و فرابنفش (UV-Vis)، اصول و انواع روش لومینسانس (Luminescence Photometers) و تشریح کامل انواع روش فوتولومینسانس
